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              超高真空组件

              • 皮可安培计
              • 皮可安培计
              • 皮可安培计
              皮可安培计皮可安培计皮可安培计

              皮可安培计

              皮克安培计

              技术参数:
              接口    输入: BNC; 模拟输出: Banana jacks
              偏压选项:  无偏压/ 内置偏压 (± 90 V DC)/ 外置偏压 (BNC)

              技术性能 参数
              USB接口 160 mW (需要功率)
              2nA minimum DAC分辨率 0.1 pA
              2mA minimum DAC分辨率 100 nA
              量程 2 nA--2 mA , 100 fA分辨率
              输入保护 反向二极管1 VDC
              记录器输出电压 +/- 2.000 V / 每个量程
              Warm-up 1 hour to rated accuracy
              操作环境温度 在 0o C to 40o C操作
              尺寸 55 mm 高 x 170 mm 宽 x 165 mm 深
              净重 0.816 kg / 1.5 lbs
              接口 输入: BNC; 模拟输出: Banana jacks
              安全 Conforms to USB Power Specification - for use by qualified personnel who are trained in the use of test and measurement instrumentation
              包括的附件 操作手册,低噪音BNC电缆,USB电源线,USB驱动器, Actuel软件

              每档量程的分辨率和准确性

              量程 分辨率 准确性
              2 nA 100 fA 0.4 +/- %


              20 nA 1 pA 0.4 +/- %
              200 nA 10 pA 0.2 +/- %
              2 uA 100 pA 0.15 +- %
              20 uA 1 nA 0.1 +/- %
              200 uA 10 nA 0.1 +/- %
              2 mA 100 nA 0.1 +/- %


              两款设备型号比较表:
              技术 RBD 9103 Keithley 6485
              USB接口 (包括) ?
              实时数据获取软件(包括) ?
              集成90V低噪音靶偏压,用于在真空系统中提高电子和离子束测试的准确性 ?
              简单的ASCII码程序指令,操作应用更为方便 ?
              低皮安到中等毫安电流量程 ? ?
              飞安量程 ?


              Applications Include:

              • Electron & ion beam current measurements

              • Electron current stability testing

              • Ion current stability testing

              • Mass spectrometer current measurements

              • Photodiode current & dark current measurements - up to 127 devices at the same time.

              • Beam and particle monitoring

              • Spectrometer measurements

              • Data logging current comparisons

              • Conductivity measurement

              • I-V characterization

              • Leakage current testing

              • Vacuum diode testing

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